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图书 装备测试性设计分析验证技术/国防电子信息技术丛书
内容
内容推荐
本书以装备开展测试性工作的实际工程需求为牵引,以测试性设计分析验证中所设计的关键技术为线索,系统阐述了测试性建模技术、测试性分配技术、测试(点)优选方法、诊断策略优化技术、测试性预计方法、测试性验证技术,并通过实例对相应的理论、方法、技术和模型进行了应用验证分析,同时简要介绍了装备开展测试性工作的工程框架,包含测试性设计分析与验证。本书可作为测试性相关专业大专、本科和研究生的学习参考,也可作为装备测试性维修性等领域的科研人员与工程技术人员的学习参考。
作者简介
王红霞,海军工程大学,博士。主要研究方向为故障诊断与虚拟仪器技术和系统可测性设计与分析。从事测试性研究13年,发表学术论文30余篇,1篇被SCI收录,12篇被EI或ISTP收录。参编电子工业出版社出版的《电子技术基础》教材。
目录
第1章概述
1.1测试性的概念、目标及其影响
1.1.1测试性概念
1.1.2测试性的影响
1.2测试性的发展过程
1.2.1测试性技术发展阶段
1.2.2测试性标准
1.3测试性工程及关键技术
1.4常用测试性术语及参数
1.4.1常用测试性术语
1.4.2参数
第2章测试性建模技术
2.1系统划分
2.1.1基于模糊有向图的系统划分
2.1.2基于模糊聚类的系统划分
2.2故障模式分析
2.2.1故障模式分析法
2.2.2测试性与故障模式分析
2.3相关矩阵
2.3.1相关矩阵概念
2.3.2相关矩阵生成方法
……
标签
缩略图
书名 装备测试性设计分析验证技术/国防电子信息技术丛书
副书名
原作名
作者 王红霞[等]编
译者
编者 王红霞//叶晓慧//陈冰//陈亚男
绘者
出版社 电子工业出版社
商品编码(ISBN) 9787121337864
开本 16开
页数 244
版次 1
装订 平装
字数 435
出版时间 2018-05
首版时间 2018-05
印刷时间 2018-05
正文语种
读者对象 普通大众
适用范围
发行范围 公开发行
发行模式 实体书
首发网站
连载网址
图书大类
图书小类
重量 380
CIP核字 2018039909
中图分类号 TJ06
丛书名
印张 15.75
印次 1
出版地 北京
259
185
11
整理
媒质 图书
用纸 普通纸
是否注音
影印版本 原版
出版商国别 CN
是否套装
著作权合同登记号
版权提供者
定价 58.00
印数
出品方
作品荣誉
主角
配角
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作者简介
目录
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更新时间:2025/5/19 2:44:15