前言
第1章 射线检测技术的物理基础
1.1 射线概念
1.1.1 射线分类
1.1.2 X射线
1.1.3 γ射线
1.2 射线与物质的相互作用
1.2.1 光电效应
1.2.2 康普顿效应
1.2.3 电子对效应
1.2.4 瑞利散射
1.3 射线衰减规律
1.3.1 基本概念
1.3.2 单色窄束射线衰减规律
1.3.3 宽束连续谱射线的衰减规律
1.4 射线检测技术的基本原理
第2章 射线机与像质计
2.1 X射线机
2.1.1 X射线机的基本结构
2.1.2 X射线管
2.1.3 X射线机的类型
2.1.4 X射线机的技术性能
2.2 γ射线机
2.3 加速器
2.4 像质计
2.4.1 像质计概述
2.4.2 射线检测的常规像质计
2.4.3 双丝型像质计
2.5 线对卡
第3章 辐射探测器
3.1 辐射探测器概述
3.2 辐射探测器的物理基础
3.3 半导体辐射探测器
3.3.1 半导体辐射探测器的原理
3.3.2 半导体辐射探测器的基本结构
3.3.3 非晶硅辐射探测器
3.3.4 非晶硒辐射探测器
3.3.5 闪烁体结合CCD（或CMOS）探测器
3.4 闪烁辐射探测器
3.4.1 闪烁辐射探测器的原理与结构
3.4.2 光电倍增管
3.4.3 图像增强器
3.4.4 IP板
3.5 气体辐射探测器
3.6 A/D转换器
第4章 成像过程基本理论
4.1 成像过程概念
4.2 成像过程的空间域分析
4.3 成像过程的空间频域分析
4.4 线扩散函数、边扩散函数与不清晰度
4.5 瑞利判据
第5章 数字图像基本理论
5.1 数字图像概念
5.2 图像数字化过程
5.2.1 采样与采样定理
5.2.2 图像幅值量化
5.2.3 数字化对图像的影响
5.3 数字射线检测图像质量
5.3.1 数字射线检测图像的对比度
5.3.2 数字射线检测图像的空间分辨率
第6章 数字射线检测基本技术
6.1 数字射线检测技术的基本过程
6.2 数字射线检测技术控制的基本关系式
6.2.1 检测图像对比度
6.2.2 检测图像不清晰度
6.3 透照技术
6.3.1 透照布置
6.3.2 透照参数
6.3.3 最佳放大倍数
6.3.4 散射线防护
6.4 图像数字化技术
6.4.1 图像数字化技术概述
6.4.2 直接数字化技术辐射探测器选择
6.4.3 间接数字化技术的图像数字化技术控制
6.4.4 射线源焦点尺寸选择
6.5 图像显示与观察技术
6.5.1 图像显示与观察的视觉理论基础
6.5.2 显示器的基本性能
6.5.3 数字图像处理技术
6.6 数字射线检测技术近似设计
6.6.1 概述
6.6.2 检测图像常规像质计指标设计
6.6.3 检测图像空间分辨率指标设计
6.6.4 数字射线检测技术近似设计实例
6.7 等价性问题讨论
6.7.1 等价性问题概述
6.7.2 射线检测技术系统的分析
6.7.3 等价性具体问题分析
6.7.4 等价性厚度范围问题的其他处理方法
第7章 常用数字射线检测技术
7.1 分立辐射探测器直接数字化射线检测技术
7.1.1 直接数字化射线检测技术系统
7.1.2 直接数字化射线检测技术控制
7.1.3 检测图像质量要求与技术应用
7.2 CR技术——IP板间接数字化射线检测技术
7.2.1 CR技术检测系统组成
7.2.2 CR技术控制
7.2.3 CR技术的图像质量控制
7.3 图像增强器间接数字化射线检测技术
7.4 微焦点数字化射线检测技术
第8章 底片图像数字化扫描技术
8.1 扫描仪
8.1.1 扫描仪概述
8.1.2 扫描仪的基本性能指标
8.2 扫描技术
8.2.1 图像扫描的基本过程
8.2.2 空间分辨率设置
8.2.3 扫描图像的后期处理
8.3 扫描仪选用
附录
附录A 卷积概念与傅里叶变换概念
附录B 采样定理的进一步说明
附录C 射线照相检测技术的缺陷检验理论
参考文献
