第一篇 元器件基础知识
第1章 电子元器件的基本概念及分类
1.1 电子元器件概述
1.1.1 狭义的电子元器件
1.1.2 通义的电子元器件
1.1.3 广义的电子元器件
1.2 元器件的主要类别及功能
1.2.1 单片集成电路
1.2.2 半导体分立器件
1.2.3 混合集成电路
1.2.4 真空电子器件
1.2.5 微波电路及组件
1.2.6 通用元件
1.2.7 光电子器件
1.2.8 机电元件及组件
1.2.9 特种元器件
1.2.10 电子元器件封装外壳
本章参考文献
第2章 检验及电子元器件检验
2.1 检验的基本概念
2.1.1 检验的分类
2.1.2 检验的一般步骤和内容
2.1.3 检验的作用
2.1.4 质量概念的发展与检验
2.1.5 可靠性与检验
2.2 电子元器件检验概述
2.2.1 鉴定检验
2.2.2 质量一致性检验
2.2.3 筛选检验
2.2.4 过程控制检验
2.2.5 检验项目
本章参考文献
第3章 元器件检验的标准体系概述
3.1 我国的标准体系
3.1.1 标准主分类
3.1.2 标准的性质
3.1.3 标准基础分类
3.1.4 标准层次
3.1.5 标准领域
3.2 电子元器件标准体系
3.2.1 电子元器件国家标准
3.2.2 电子元器件行业标准
3.2.3 电子元器件军用标准
3.3 电子元器件检验标准体系
本章参考文献
第二篇 元器件测试技术
第4章 集成电路测试技术
4.1 器件类型及参数
4.1.1 器件类型
4.1.2 器件参数
4.2 对标准的理解
4.2.1 集成电路测试方法标准
4.2.2 标准的技术内容
4.2.3 复杂电路测试标准
4.2.4 集成电路测试标准的发展方向
4.3 参数的测试方法
4.3.1 数字集成电路的参数测试方法
4.3.2 模拟集成电路的参数测试方法
4.4 工程应用经验
4.4.1 ATE测试平台
4.4.2 集成电路测试支撑技术
4.4.3 集成电路测试案例
4.5 测试技术的发展趋势
本章参考文献
第5章 分立器件测试技术
5.1 器件类型及参数
5.1.1 二极管
5.1.2 晶体管
……

王晓晗、罗宏伟编著的《电子元器件检验技术(测试部分)》的编写团队结合最新的科研成果以及多年来在电子元器件检验技术方面的实战经验，结合我国电子元器件产业现状，从电子元器件检验和生产行业角度出发，围绕电子元器件检验主题，阐述了检验的基本概念、标准体系，重点介绍了集成电路、半导体分立器件等十大类基本电子元器件的参数测试方法，同时将团队多年来实际工作中的工程应用经验进行了概括总结，供相关读者参考。