图书 | 面向人工智能的超小贴装器件可靠性设计 |
内容 | 内容推荐 《面向人工智能的超小贴装器件可靠性设计 》内容包括2CK6642UB芯片磷扩散掺杂、2CK6642UB芯片硼扩散掺杂、芯片与CLCC-3(UB)金属陶瓷管壳焊接工艺、 微小CLCC-3(UB)金属陶瓷器件封帽焊接、微小2CK6642UB型开关二极管器件可靠性试验。《面向人工智能的超小贴装器件可靠性设计》可供半导体、微电子、芯片的研究、制造、应用人员参考。 目录 第1章概述/001 1.1超小CLCC(UB)金属陶瓷管壳003 1.1.1超小CLCC-3(UB)金属陶瓷基片技术研究进展006 1.1.2超小CLCC-3(UB)金属陶瓷研究现状007 1.2开关二极管芯片008 1.2.1开关二极管晶体硅的掺杂008 1.2.2开关二极管国内外研究现状012 1.2.3中国现有开关二极管制造技术012 1.3超小CLCC(UB)金属陶瓷器件封装013 1.3.1电子封装技术国内外研究现状013 1.3.2金基合金焊料015 1.4主要研究内容019 第2章试验材料与研究方法/022 2.12CK6642UB芯片制备与分析022 2.1.1试验材料022 2.1.2试验方法022 2.1.3测试方法029 2.2超小CLCC-3(UB)金属陶瓷器件芯片焊接与分析031 2.2.1试验材料031 2.2.2试验方法031 2.2.3测试方法033 2.3超小CLCC-3(UB)金属陶瓷器件封帽焊接与分析035 2.3.1试验材料035 2.3.2试验方法035 2.3.3测试方法036 2.4超小2CK6642UB型开关二极管器件可靠性考核037 2.4.1参照标准037 2.4.2可靠性考核038 第3章2CK6642UB芯片磷扩散及分析/040 3.1温度对磷扩散均匀性影响的仿真模拟041 3.1.1建立几何模型041 3.1.2建立有限元网格044 3.1.3求解器求解045 3.1.4均匀性分析049 3.2混合气体配比对磷扩散均匀性影响的仿真模拟052 3.2.1求解器求解052 3.2.2均匀性分析053 3.3石英舟位置对磷扩散影响均匀性的仿真模拟056 3.3.1建立几何模型056 3.3.2求解器求解057 3.3.3均匀性分析058 3.4高温液态源磷扩散试验061 3.4.1温度对磷扩散均匀性的影响061 3.4.2混合气体配比对磷扩散均匀性的影响062 3.4.3石英舟位置对磷扩散均匀性的影响064 3.5小结065 第4章2CK6642UB芯片硼扩散及分析/066 4.12CK6642UB芯片参数设计067 4.1.12CK6642UB芯片纵向参数设计068 4.1.22CK6642UB芯片横向参数设计070 4.1.3扩散总周长设计070 4.1.4板图设计070 4.22CK6642UB芯片硼扩散仿真模拟072 4.2.1求解器求解072 4.2.2均匀性分析073 4.32CK6642UB芯片硼扩散075 4.4硼掺杂硅片特性076 4.4.1硅片掺杂特性曲线076 4.4.2硅片方块电阻080 4.5扩散层微观组织结构081 4.6小结084 第5章2CK6642UB芯片焊接及分析/086 5.1正交试验设计与初步分析087 5.1.1芯片焊接接头剪切强度088 5.1.2芯片焊接接头X射线检测089 5.1.3芯片焊接接头截面形貌089 5.2焊接温度对芯片焊接接头的影响091 5.2.1芯片焊接接头表面及截面形貌092 5.2.2芯片焊接接头物相组成093 5.2.3芯片焊接接头微观组织结构096 5.3焊片与芯片面积比对芯片焊接接头的影响100 5.3.1芯片焊接接头表面及截面形貌101 5.3.2芯片焊接接头物相组成102 5.3.3芯片焊接接头微观组织结构102 5.4小结106 第6章2CK6642UB封帽焊接及分析/107 6.1正交试验设计与初步分析108 6.1.1封帽焊接水汽含量109 6.1.2封帽焊接样品X射线检测110 6.1.3封帽焊接接头截面形貌110 6.2焊接温度对封帽焊接接头的影响113 6.2.1封帽焊接接头表面及截面形貌113 6.2.2封帽焊接接头物相组成115 6.2.3封帽焊接接头微观组织结构120 6.3超小CLCC-3(UB)封帽焊接检验126 6.3.1超小CLCC-3(UB)封帽焊接气密性检验126 6.3.2超小CLCC-3(UB)封帽焊接内部水汽含量检测128 6.4小结129 第7章2CK6642UB型硅开关二极管的可靠性考核/131 7.1功能性能分析132 7.1.1测试覆盖性分析132 7.1.2测试结果及产品对比135 7.2极限试验147 7.2.1步进功率极限试验147 7.2.2耐反向电压能力试验148 7.2.3交变温度应力极限试验148 7.2.4热冲击极限试验148 7.2.5随机扫频振动极限试验149 7.3寿命考核强化试验149 7.4失效情况150 7.5小结150 参考文献/152 |
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书名 | 面向人工智能的超小贴装器件可靠性设计 |
副书名 | |
原作名 | |
作者 | 赵志桓 |
译者 | |
编者 | |
绘者 | |
出版社 | 化学工业出版社 |
商品编码(ISBN) | 9787122353283 |
开本 | 16开 |
页数 | 161 |
版次 | 1 |
装订 | 平装 |
字数 | 180 |
出版时间 | 2020-01-01 |
首版时间 | 2020-01-01 |
印刷时间 | 2020-01-01 |
正文语种 | 汉 |
读者对象 | |
适用范围 | |
发行范围 | 公开发行 |
发行模式 | 实体书 |
首发网站 | |
连载网址 | |
图书大类 | 科学技术-工业科技-电子通讯 |
图书小类 | |
重量 | 300 |
CIP核字 | 2019223089 |
中图分类号 | TN305.94 |
丛书名 | |
印张 | 10.75 |
印次 | 1 |
出版地 | 北京 |
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