《材料现代分析技术》主要介绍材料三大要素：结构、形貌和成分的分析技术及其他相关分析技术。结构分析技术主要为衍射技术，包括晶体的投影与倒易点阵、X射线的物理基础、单晶体和多晶体X射线衍射原理、分析及其应用、电子衍射（高能电子衍射TEM、HRTEM和低能电子衍射LEED）、电子背散射衍射EBSD和中子衍射ED等。形貌分析技术包括扫描电子显微镜SEM、扫描透射电子显微镜STEM、扫描隧道显微镜STM及原子力显微镜AFM。成分分析技术主要包括特征电子能谱（俄歇电子能谱AES和X射线光电子能谱XPS）、特征X射线能谱（电子探针EDS）、荧光X射线能谱XRFS及光谱分析（原子光谱、分子光谱等）。其他分析技术简要介绍热分析技术，包括热重分析TGA、差热分析DTA和差示扫描量DSC热分析。书中研究和测试的材料包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料等。书中对每章内容作了提纲式的小结，并附有适量的思考题。书中采用了一些作者尚未发表的图片和曲线，同时在实例分析中还注重引入了一些当前材料界最新的研究成果。
《材料现代分析技术》可作为高等学校材料科学与工程学科本科生的学习用书，也可供相关专业的研究生、教师和科技工作者使用。

第1篇 结构分析技术
第1章 晶体的投影与倒易点阵
1.1 晶体的投影
1.1.1 球面投影
1.1.2 极式网与乌氏网
1.1.3 晶带的极式球面投影和极射赤面投影
1.1.4 标准极射赤面投影图
1.2 正点阵与倒易点阵
1.2.1 正点阵
1.2.2 倒易点阵
1.2.3 正倒空间之间的关系
1.2.4 倒易矢量的基本性质
1.2.5 晶带定律
1.2.6 广义晶带定律
本章小结
思考题
第2章 X射线的物理基础
2.1 X射线的发展史
2.2 X射线的性质
2.2.1 X射线的产生
2.2.2 X射线的本质
2.3 X射线谱
2.3.1 X射线连续谱
2.3.2 X射线特征谱
2.4 X射线与物质的相互作用
2.4.1 X射线的散射
2.4.2 X射线的吸收
2.4.3 吸收限的作用
本章小结
思考题
第3章 X射线的衍射原理
3.1 X射线衍射的方向
3.1.1 劳埃方程
3.1.2 布拉格方程
3.1.3 布拉格方程的讨论
3.1.4 衍射矢量方程
3.1.5 布拉格方程的厄瓦尔德图解
3.1.6 布拉格方程的应用
3.1.7 常见的衍射方法
3.2 X射线的衍射强度
3.2.1 单电子对X射线的散射
3.2.2 单原子对X射线的散射
3.2.3 单胞对X射线的散射强度
3.2.4 单晶体的散射强度与干涉函数
3.2.5 单相多晶体的衍射强度
3.2.6 影响单相多晶体衍射强度的其他因素
本章小结
思考题
第4章 X射线的衍生分析及其应用
4.1 X射线衍射仪
4.1.1 测角仪
4.1.2 计数器
4.1.3 计数电路
4.1.4 X射线衍射仪的常规测量
4.2 X射线物相分析
……
第2篇 形貌分析技术
第3篇 成分分析技术
第4篇 其他分析技术
附录
参考文献