X射线分析是基本的材料表征手段,因为不管材料是晶态抑或是非晶态,也不管它是否在纳米尺度,都是X射线衍射、散射等的极好研究对象。本书就是介绍利用X射线表征纳米材料的著作,它的主要特点在于详细介绍了利用X射线衍射方法表征纳米材料的微结构,即纳米晶体的形状、尺度、微应力存在情况以及纳米材料中的堆垛层错的存在情况,同时分别用一章的篇幅介绍了纳米薄膜和介孔材料的X射线表征以及表征纳米材料粒度分布与分形结构的小角散射法。
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